| Marchio: | Keysight (Agilent) |
| Numero di modello: | E8364B |
| MOQ: | 1 set |
| Prezzo: | Negoziabile |
| Condizioni di pagamento: | T/t, |
Keysight (Agilent) E8364B PNA Network Analyzer, da 10 MHz a 50 GHz
Descrizione di Keysight Agilent E8364B
Visualizzazione e caratteristiche dell'analizzatore di rete PNA E8364B
| 010 | Dominio temporale |
| 014 | Opzione di set di prova configurabile (anelli di accesso del pannello anteriore tra l'uscita della sorgente e l'ingresso dell'accoppiatore) |
| 016 | Aggiungere attenuatori del ricevitore (35 dB in passaggi di 5 dB) |
| 022 | Memoria estesa 512 MB |
| 067 | Kit di aggiornamento a 67 GHz per il set di prova non opzione 014 |
| 068 | Kit di aggiornamento 67 GHz per i set di prova opzione 014 e 014/080 |
| 080 | Frequenza-offset (per uso con miscelatori, convertitori e amplificatori) |
| 081 | Interruttore del canale di riferimento (aggiunge l'interruttore interno al percorso R1) |
| 082 | Misure del convertitore calibrato scalare |
| 083 | Applicazione di misura del convertitore di frequenza S/W |
| 084 | Misurazioni LO incorporate |
| 1A7 | Calibrazione conforme alla norma ISO 17025 |
| 1 cm | Kit di montaggio |
| 1CP | Kit per il montaggio e la manipolazione dei rack |
| 550 | 4 Applicazione di misurazione delle porte (consente la correzione completa degli errori delle porte 4 e le misurazioni differenziali delle porte 2 N/A) |
| 551 | Aggiunge le misurazioni calibrate a N-port |
| 700 | Set di prova standard |
| 720 | Memoria estesa 512 MB |
| 810 | Set di prova standard e intervallo di potenza standard (700+711) |
| 811 | Prova standard e gamma di potenza estesa (700-UNL) |
| 812 | Configurabile test set deck e gamma di potenza standard (014-711) |
| 813 | Configurabile test set deck e ampliato range di potenza (014-UNL) |
| 830 | Il pacchetto di opzioni dell'UNL, 014,016,080,081, e H11 |
| 831 | Il pacchetto di opzioni dell'UNL, 014,080,081, e H11 |
| A6J | Calibrazione conforme all'ANSI Z540 con dati di prova |
| AB1 | Guida rapida per gli utenti della Corea (localizzazione coreana) |
| AB2 | Guida agli utenti veloci della Cina (localizzazione cinese) |
| ABA | U.S. Quick Users Guide (localizzazione in inglese) |
| ABD | Guida agli utenti veloci della Germania (localizzazione tedesca) |
| ABE | Guida agli utenti veloci per la Spagna (localizzazione in spagnolo) |
| ABF | Guida agli utenti veloci per la Francia (localizzazione francese) |
| ABJ | Guida agli utenti veloci del Giappone (localizzazione giapponese) |
| ABZ | Italia Quick Users Guide (localizzazione in italiano) |
| H08 | Capacità di misurazione a RF pulsata |
| H11 | IF Access (per le misurazioni dell'antenna, del punto in impulso, del profilo dell'impulso e delle onde MM a banda larga) |
| H85 | Opzione ad alta potenza senza Bias Tees (permette amplificatori RF tra sorgente RF e ingresso dell'accoppiatore) |
| N4688A | Un'unità CD R/W USB, un'unità CD esterna di lettura/scrittura con un cavo USB |
| N4689A | Hub USB per collegare periferiche USB aggiuntive all'analizzatore di rete PNA |
| P02 | 2 Unità portuale |
| R-51B-001-3C | 1 anno di garanzia di ritorno a Agilent estesa a 3 anni |
| RMKT | Agilent Prodotto rinnovato (non utilizzare - Opzione Certiprime) |
| Regno Unito | Calibrazione commerciale con dati dei risultati delle prove |
| UNL | Misurazione di alta potenza con configurazione di bias (consente amplificatori estesi tra sorgente RF e ingresso dell'accoppiatore) |
| Z5623A-H81 | Set di prova dell'impulso unidirezionale da 2 GHz a 20 GHz |
| Z5623A-H83 | Set di prova di impulsi bidirezionali da 2 GHz a 20 GHz. |
| Z5623A-H84 | Set di prova di impulsi bidirezionali da 2 GHz a 40 GHz |
| Z5623A-H85 | Set di prova di impulsi bidirezionali da 1 GHz a 40 GHz |
| Z5623A-H86 | Set di prova dell'impulso unidirezionale da 2 GHz-40 GHz |
| Z5623A-H87 | Set di prova di impulsi bidirezionali da 1 GHz a 50 GHz |
| Z5623A-H88 | Set di prova di impulsi a doppia direzione da 1 GHz a 50 GHz (senza HPIB) |
| Z5623A-H89 | Set di prova dell'impulso unidirezionale da 10 MHz a 5 GHz (senza HPIB) |
| Z5623A-H90 | Set di prova di impulsi bidirezionali da 1 GHz a 50 GHz (porte di prova sul set di prova) |
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